Analisis Pola Interferensi Pada Interferometer Michelson Sebagai Pendeteksi Ketebalan Bahan Transparan Dengan Metode Image Processing Menggunakan Sensor Charge Couple Device (CCD)
Abstract: Deteksi ketebalan
bahan transparan akrilik dan kaca dilakukan dengan cara mengamati perubahan
pola frinji yang terbentuk pada interferometer michelson. Pola frinji yang
terbentuk pada saat interferometer michelson belum diberikan sampel, digunakan
sebagai data awal atau dianggap dalam kondisi normal. Perubahan pola frinji
tanpa diberikan sampel dengan pola frinji saat diberikan sampel akrilik dan
kaca, digunakan sebagai nilai ketebalan dari sampel yang diamati. Pengamatan
dilakukan dengan bantuan sensor ccd yang terdapat pada kamera. Hasil dari
gambar yang didapatkan, diolah hingga dapat menunjukan nilai perubahan yang
terjadi. Dari percobaan yang telah dilakukan diperoleh tebal akrilik 2 mm
sebesar 0,8 mm dan akrilik 3 mm sebesar 1,7 mm. untuk pengukura ketebalan kaca
didapatkan tebal kaca 1 mm sebesar 0,6 mm, kaca 2 mm sebesar 0,8 mm dan kaca 3
mm sebesar 2,1 mm
Penulis: Warsito, Sri Wahyu
Suciyati, Aptridio S Yusuf
Kode Jurnal: jpfisikadd150956
![](https://blogger.googleusercontent.com/img/b/R29vZ2xl/AVvXsEjGj4FQv1aMKKBVC4_mesGV_ZBAKWTejNaV2HxifdICn1Si6-Cbih_Nn3RHQNCq1oxvhyRv2U9yPX6t4k-PCOSIkqYXB__v7DbFjwnVn73zgsW72l7sqKX5dvQ2XVxnqcLrw2CvPzs63oA/s320/E+JURNAL.gif)