Penentukan Indeks Bias Lapisan Tipis dengan menggunakan Ellipsometer
Abstrak: Penelitian amorphous
silicon film tipis yang pelapisnya dilakukan di atas bahan semi transparan dan
non transparan. Dengan menggunakan Ellipsometer menghasilkan pengukuran yang
sangat akurat, dan dengan menggunakan komputer program hasil percobaan diolah
serta dibandingkan antara pengukuran dilakukan sebelumnya.
Penulis: Satwiko S
Kode Jurnal: jpfisikadd090057
