Preparasi dan Karakterisasi Permukaan Elektroda Berlapis Titanium Dioksida Nanopartikel Menggunakan Atomic Force Microscopy

Edit
Abstract: Telah dilakukan penelitian tentang preparasi dan karakterisasi permukaan elektrodaberlapis nanopartikel titanium dioksida (TiO2) dengan menggunakan Atomic ForceMicroscopy (AFM). Lapis tipis nanopartikel TiO2 telah dipreparasi dengan menerapkanmetode Sol-Gel Dip-Coating menggunakan titanium tetraisopropoksida (TTIP). Hasilkarakterisasi AFM menunjukkan roughness 1,596nm dan ukuran partikel 9,8 nm. Hasil yangdiperoleh cocok secara praktis untuk penggunaan sebagai elektroda dalam sistemfotoelektrokatalitik.
Kata kunci: Nanopartikel, AFM, TiO2, karakterisasi.
Penulis: Muh. Nurdin
Kode Jurnal: jpkimiadd110177

Artikel Terkait :