Analisis Morfologi Permukaan Lapisan Klorofil dengan Atomic Force Microscopy
Abstract: Karakteristik
morfologi permukaan lapisan klorofil hasil AFM (Atomic Force Microscopy) telah
dianalisis. Lapisan klorofil ditumbuhkan dengan metode spin coating pada
substrat glass ITO. Hasil pengamatan morfologidengan AFM menjelaskan bahwa
lapisan dengan N = 5 memiliki permukaan yang lebih rata dibandingkan dengan N =
3 akibat adanya proses inter molekular interaksi. Ukuran molekul penyusun
lapisan klorofil membentuk distribusi Gaussian. Hasil pengamatan kurva profil
permukaan diperoleh ketebalan lapisan yang diperoleh yaitu berturut-turut
sebesar 287,9 dan 372,6 nm untuk N = 3 dan 5.
Penulis: Lidya Nur De Vega
Kode Jurnal: jpfisikadd150250
